http://www.edn.com/electronics-news/4389470/The-basics-of-testing-op-amps-part-2-br--Test-op-amps-for-input-bias-current运算放大器测试基础第2部分：测试运算放大器的输入偏置电流作者：MartinRowe—2012年2月6日在本系列第1部分《电路测试主要运算放大器参数》一文中，我们介绍了一些基本运算放大器测试，例如失调电压(VOS)、共模抑制比(CMRR)、电源抑制比(PSSR)和放大器开环增益(Aol)。本文我们将探讨输入偏置电流的两种测试方法。选择哪种方法要取决于偏置电流的量级。我们将介绍器件测试过程中需要考虑的各种误差源。本系列的下篇文章将介绍一款可配置测试电路，其可帮助您完成本文所介绍的所有测量。产品说明书通常为运算放大器的非反相输入与反相输入（iB+和iB-）分别提供了一个偏置电流列表。这两个输入的区别就是输入失调电流IOS。在工作台上，您可能会忍不住使用图1a中的电路来测试正输入偏置电流，因为该配置下的放大器很稳定，这种方式有效。可惜，在测量负输入偏置电流时，没有保持放大器稳定性的简单方法。然而，可增加一个环路放大器保持被测试器件的稳定性，这样可使用静电计测量偏置电流，如图1b中的电路所示。这个电路就是在第1部分中我们用来测试VOS的双放大器测试环路，但有一个不同的连接。我们将两个放大器的输入颠倒过来，以保持被测试器件的稳定性。虽然这种方法对工作台测试很管用，但静电计的速度太慢，不适合用于高速生产测试。我们在生产测试中使用的方法是VOS测试的修改方案。为了测试输入偏置电流(IB)，我们为电路添加了继电器和电阻器（或电容器）。请见图1c中的电阻器RB。为了讨论起见，我们使用双运算放大器测试环路来描述该测试。不过，本技术同样也适合第1部分中介绍的两种测试环路。我们为图1c中被测试器件的每个输入都添加了一个继电器和电阻器。在继电器K2和K3闭合时，我们可使用第1部分介绍的VOS测量技术测量和保存VOUT值。公式1根据RIN、RF和VOS定义了VOUT。图1.使用图(a)中的电路测量运算放大器非反相输入端的输入偏置电流。在图(b)中增加一个环路放大器，可在针对反相输入端进行测量时保持运算放大器的稳定性。图(c)中的电路可测量任何输入端的偏置电流。继电器可决定电路配置。点击图片放大公式1对公式1进行变换后，可得到用于计算VOS的公式2。接下来，我们打开K2，进行另一项测量，得到VOUT(IB-)。测得的电压由被测试器件的失调电压以及流过电阻器RB的输入偏置电流引起，可表示为公式3。我们现...
