第５８卷第４期原子能科学技术Vol．５８,No．４２０２４年４月AtomicEnergyScienceandTechnologyApr．２０２４空间混合辐射环境器件单粒子在轨错误率预估及不确定度分析方法张付强１,张峥１,肖舒颜１,龚毅豪１,韩金华１,陈启明１,曾传滨２,郭刚１(１．中国原子能科学研究院,北京１０２４１３;２．中国科学院微电子研究所,北京１０００２９)摘要:针对空间混合辐射对器件单粒子在轨错误率的影响,基于典型静态随机存储器利用中国原子能科学研究院HIＧ１３串列加速器以及钴源总剂量模拟辐照试验装置开展协合效应研究,发展了一种器件在混合辐射环境下的单粒子在轨错误率计算方法.并利用该方法计算了协合效应影响下的航天器典型任务周期器件的在轨错误率,同时分析了器件在轨错误率计算中的不确定度来源并计算了在轨错误率不确定度.结果表明,对于该类型器件,空间混合辐射场导致的协合效应将降低器件单粒子在轨错误率.关键词:单粒子在轨错误率;协合效应;不确定度分析;混合辐射中图分类号:TL９９;O５７１．１文献标志码:A文章编号:１０００Ｇ６９３１(２０２４)０４Ｇ０９４５Ｇ０７收稿日期:２０２３Ｇ０８Ｇ０８;修回日期:２０２３Ｇ０９Ｇ０４doi:１０．７５３８/yzk．２０２３．youxian．０５７４CalculationMethodofSingleEventUpsetInducedSoftErrorRateandItsUncertaintyunderSpaceMixedBeamEnvironmentZHANGFuqiang１,ZHANGZheng１,XIAOShuyan１,GONGYihao１,HANJinhua１,CHENQiming１,ZENGChuanbin２,GUOGang１(１．ChinaInstituteofAtomicEnergy,Beijing１０２４１３,China;２．InstituteofMicroelectronicsoftheChineseAcademyofSciences,Beijing１０００２９,China)Abstract:Radiationeffectofthedevicebecomesmoreimportantwiththedevelopmentofaerospaceduetothemmaychangethestateorevendestroythedevice．Themajortypesoftheradiationeffectincludesingleeventeffect(SEE),totalionizingdose(TID)anddisplacementdamage(DD)．SEEcanbecausedbyionsincidencethesensitiveregionofthedeviceandchangesthepotentialoftheelectrode．TIDcanbecausedbyionsincidenceatthematerialofthedeviceandleadstothechargeaccumulateontheSiＧSiO２interface．Ingeneral,theSEEandTIDoftenoccurinrandomＧaccessmemory(RAM),andtheDDoftenoccurinimagesensor．Therefore,theresearchingandestiＧmatingtheriskofradiationeffectonthedevicebeforeuseisneces...
