中国新技术新产品2024NO.4（上）-72-工业技术元器件作为电子设备的最小组成单元，其可靠性对整个电子设备的性能和寿命有重要影响[1]，对电子设备元器件可靠性参数的准确预测和评估尤为重要[2]。传统的电子设备元器件可靠性参数预测方法多数采用文献[3]提出的预测方法原理，但该方法不能充分考虑元器件个体间的差异，预测结果精度不高。区间算法能够为决策者提供确切的概率信息[4]。因此本文进行了基于区间算法的电子设备元器件可靠性参数预测方法研究。1电子设备元器件可靠性参数预测方法设计1.1电子设备元器件运行数据采集进行电子设备元器件可靠性参数预测前，需要采集元器件的运行数据，以获取元器件的运行状态变化。本文利用传感器采集电子设备元器件运行数据，需要确定采集的电子设备元器件的运行数据类型，见表1。根据表1中需要采集的数据类型选择合适的传感器。将传感器安装在需要采集数据的电子设备元器件上，确保连接稳定且数据传输可靠。打开数据采集系统，实时采集电子设备元器件的运行数据并存储在系统中[5]。对采集到的数据进行实时分析，了解电子设备元器件的运行状态、性能指标等信息，帮助进行故障诊断和预测[6]。1.2电子设备元器件寿命阶段识别电子设备元器件运行数据采集完毕后，可得元器件的运行状态和性能指标信息。然后分析元器件的是否存在故障，进而识别元器件寿命阶段，为后续可靠性参数预测提供有力支持。本文采用威布尔分布模型对电子设备元器件故障进行分析。设定电子设备元器件随机变量M服从三参数威布尔分布，此时，随机变量M的概率密度函数与累积分布函数分别如公式（1）、公式（2）所示。()1expttftβββγγηηη−−−=−（1）()1exptFtβγη−=−−（2）式中：β为威布尔分布形状参数；η为威布尔分布尺度参数；γ为威布尔分布位置参数。其中β可以用于辨别电子设备元器件寿命分布的故障类型，进而识别出电子设备元器件的3个寿命阶段，如图1所示。电子设备元器件主要的寿命阶段包括早期失效期、偶然失效期和耗损失效期。其中早期失效期间是全新的电子设备元器件，运行过程中可能会出现各式各样的故障，故障率相对较高。在元器件使用一段时间并逐渐进入适应期后，故障率会随下降，在此期间，元器件失效率维持稳定。元器件使用长时间会逐渐产生磨损，出现疲劳老化现象，此期间的故障率再次呈指数上升[7]。根据电子设备元器件的失效率与故...
