有关德拜照相实验中的几点实际问题X射线研究多晶体物质的主要应用范围n鉴别矿物n对相的成分做定性和定量的分析n研究晶体中残余内应力和晶格的变形n研究晶体的取向n精确测定单胞的大小n测量晶粒的大小研究多晶体的衍射n波在晶体上的衍射遵从布拉格方程．n根据布拉格方程2dSinθ=λn可知，晶面产生的衍射线是以原射线方向为轴，顶角为4θ，顶点在样品被照射部分的圆锥，见图1．不同指数的晶面间距d不同，因而衍射圆锥顶角不同．多晶体衍射圆锥见图2．图1多晶体的衍射图2不同晶面族的衍射图德拜照相原理n摄取德拜相的底片一般卷成圆桶状．n样品位于中心轴线．n底片图样就是衍射圆锥与其交线，如下图所示，称为德拜环．辐射的选择n德拜法中经常采用X射线，射线波长的变化范围从0.15――0.20nm．n最方便的是采用CuKα射线．l由于铜的导热性大，所以铜靶的X射线管负荷大于（电流强度增大和电压增高）其他轻元素靶的X射线管的负荷（焦点大小一样）．因此，这种铜靶的X射线管可以发出最强的射线l铜靶的特征射线（CuKα）在X射线管小窗中，在空气中以及在用做分析的样品中很少被吸收，因而在摄取照相时的暴光时间比采用其他软射线时为短．n射线的波长越长，由同一物质的同一平面反射出的射线所呈布拉格角越大，X射线相上的线越少，线间距离也就越大．X射线相的衍射线数n理论研究结果，X射线相上的线数与波长立方成反比：n=k/λ3n实验中，X射线相上的线数也决定于晶系，晶系越低，X射线相上线数则越多，而线强度则较弱．主要原因是由于多重化因子所造成的．X射线照相机的分辨率nX射线照相机的“分辨率”是定量的表示出X射线相上的线条分开的程度的．n照相机的分辨率为一系数，以“φ”表示，根据此系数与Δd/d的乘积（Δd－相临的平面间距之差，d－平均平面间距）可确定“ΔL”值（ΔL平面X射线相上相应于该二平面的衍射线间距）：φ＝ΔL/(Δd/d)n采用布拉格方程式来确定“φ”：Sinθ=nλ/(2d)改变sinθ值，必须相等的改变nλ/(2d)值即：Δ(sinθ)=Δ(nλ/2d)如此cosθ=-nλΔd/(2d2)=-sinθΔd/d即｜Δd/d｜=Δθ/tgθn接下来确定ΔL值，从下图知：2L=R×4θ而2ΔL=4R×Δθ或：ΔL=2R×Δθn最终形式可写成：φ=2Rtgθn照相机的半径和波长越大，面间距离“d”越小，则X射线照相机的分辨率越大．n当研究结构常数大的物质，和用重元素（例如钼）制成的X射线管时，得到高分辨率的唯一方法是将照相机的半径增大．样品的最合适大小n样品厚度增加时，衍射辐射量...
