数据处理：一、观察和的γ射线能谱，在图上指出光电峰、康普顿边界、电子对峰、背散射峰等峰位。图1.放射源的γ射线能谱图2.放射源的γ射线能谱二、计算的光电峰和的左侧光电峰对应的能量刻度。已知：的左侧光电峰对应B道，的光电峰＝0.661对应A道于是可得能量刻度公式为：其中由实验数据可知，B道道址为835.738，由图2知A道道址为478.611。代入数据得：三、测量的右侧光电峰能量及计算光电峰的能量分辨率。1、测量的右侧光电峰能量的右侧光电峰能量=的右侧光电峰道址C×能量刻度e即E2=C×e=949.721×=1.3531.35与理论值相比，相对误差为×100%=1.50%理论值比实验值少一位有效数字，所以相对误差不大准确。但从中可看出实验误差相对较小，说明实验比较成功，实验较为精确。由于我们选择的放射源不大活跃或是我们4号台的仪器不大灵敏，导致我们组在进行5000多秒后，右侧光电峰的计数才刚到440左右（参见图1）。由于计数的数量不足够大也是造成误差的主要原因之一。2、计算光电峰的能量分辨率光电峰的能量分辨率为：四、测量紫铜片对发射的γ射线的吸收曲线，在半对数纸上作图，求出线性吸收系数和半吸收厚度。1、将实验数据制作成表格，如下：（其中I0=36528）铜片个数012345678910厚度x(mm)02.885.728.6411.4814.4017.2620.0623.0025.9428.90CountI3652828447255622100317897157301418211287989089407007ln()×10400.2500.3570.5530.7130.8420.9461.1741.3061.4081.651表1.不同紫铜片对γ射线吸收情况2、以厚度h(mm)为横坐标，ln()×104纵坐标，做半对数坐标图并线性分析如下：ln()[2009-3-2011:50"/Graph1"(2454915)]LinearRegressionforData1_B:Y=A+B*XParameterValueError---------------------------------------------A0.055920.02191B0.054250.00129---------------------------------------------RSDNP---------------------------------------------厚度x(mm)-0.997480.0388911<0.0001图3.ln(n)~h线性拟合---------------------------------------------由origin软件得出的数据知：斜率B=0.05425±0.00129相对误差为：2.38%相关系数r=0.99748由公式得现行吸收系数μ为：当时，x的值为半吸收厚度：即当紫铜片厚度为12.78mm，刚好能吸收发射的γ射线的一半。思考题：用闪烁谱仪测量γ射线能谱时，要求在多道分析器的道址范围内能同时测量出和的光电峰，应如何选择合适的工作条件？在测量过程中该工作条件可否改变？1、由上面的实验情况可知，要使和的光电峰能同时测量，需调节电压，使的光电峰处于420道址附近，这样才能使的右光电峰为870道址左右，不致于超出量程不能显示。2、在测量过程中该工作条件不能改变，否则不同的道址对应的能量就不相同，实验不具有可比性，该测量过程也就没有意义。
