第26卷第5期电子元件与材料Vol.26No.52007年5月ELECTRONICCOMPONENTSANDMATERIALSMay2007导致MLCC失效的常见微观机理李世岚包生祥彭晶马丽丽(电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室四川成都610054)摘要:多层陶瓷电容器MLCC在实际使用过程中电参数会发生不同程度的偏离降低了可靠性直到MLCC失效其失效原因可分为外部因素和内在因素分析讨论了影响MLCC可靠性的内在因素MLCC内部分层导电粒子金属离子迁移和介电老化等常见微观失效机理并提出了主要应对措施关键词:电子技术MLCC失效分析内在因素微观机理中图分类号:TM53文献标识码:A文章编号:1001-2028200705-0058-04MicrocosmicmechanismofcausingfailureofMLCCLIShi-lan,BAOSheng-xiang,PENGJing,MALi-li(StateKeyLaboratoryofElectronicThinFilmsandIntegratedDevices,UniversityofElectronicScienceandTechnology,Chengdu610054,China)Abstract:InpracticalapplicationofMLCC,itselectricparameterwillchangeandreliabilitywilldegradeuntilitfails.FailedreasonsofMLCCcanbedividedintotwokinds:internalandexternal.Theformerareinnerlayer,migrationofconductparticleandmetalions,dielectricageingandsoon.Andmainovercomingwaysarediscussed.Keywords:electrontechnology;MLCC;failureanalysis;internalfactors;microcosmicmechanism片式多层陶瓷电容器(MLCC)又称独石电容器是世界上用量最大发展最快的片式元件之一由于MLCC的生产工艺复杂各项参数难于精确控制不可避免地在电容体内出现各种缺陷这些缺陷正是影响电容器可靠性的主要因素之一[1,2]笔者通过对MLCC失效样品的微观分析研究和对近年来国内外MLCC可靠性研究方面主要文献的研究总结逐一讨论了导致MLCC失效的各种微观机理并提出对应的改善措施和预防对策1MLCC的主要失效模式MLCC在工作应力与环境应力综合作用下工作一段时间后会分别或同时产生某些失效模式电容器的常见失效模式有介质击穿开路电参数变化包括电容量超差损耗角正切值增大绝缘电阻下降或漏电流上升等漏液引线腐蚀或断裂绝缘子破裂或表面飞弧等电容器击穿开路引线断裂绝缘子破裂等使电容器完全失去工作能力的失效属致命性失效其余一些失效会使电容不能满足使用要求并逐渐向致命失效过渡影响系统的可靠性引起MLCC失效的原因是多种多样的各种MLCC的材料结构制造工艺性能和使用环境各不相同失效机理也各不一样同一失效模式有多种失效机理同一失效机理又可产生多种失效...
