第４３卷第１期２０２３年１月核电子学与探测技术ＮｕｃｌｅａｒＥｌｅｃｔｒｏｎｉｃｓ＆ＤｅｔｅｃｔｉｏｎＴｅｃｈｎｏｌｏｇｙＶｏｌ．４３Ｎｏ．１Ｊａｎ．２０２３ＣＭＳ－ＧＥＭ探测器电子学板测试工具的研制梁子寒，薛志华，王珂，王大勇，班勇（北京大学物理学院，北京１００８７１）摘要：针对ＣＭＳ－ＧＥＭ探测器前端电子学板（ＧＥＢ）的研制和生产中质量控制的需求，研发了新的自动化测试工具，对电子学板进行连通性和误码率测试。应用基于ＦＰＧＡ的片上系统，提高了测试效率和可靠性，并可自动存储测试结果。该套测试设备已应用在ＧＥＢ的研制和批量生产质量控制工作中，检验合格的ＧＥＢ已经运往ＣＥＲＮ进行探测器的组装。关键词：气体电子倍增器；质量控制；ＦＰＧＡ；自动化测试中图分类号：ＴＬ８１文献标志码：Ａ文章编号：０２５８－０９３４（２０２３）１－０１６３－０６２０１２年，运行在欧洲核子中心（ＣＥＲＮ）大型强子对撞机（ＬＨＣ）上的ＣＭＳ［１］和ＡＴＬＡＳ实验共同宣布发现了质量１２５ＧｅＶ的希格斯玻色子［２］，粒子物理标准模型得到了进一步验证，人类对物理规律的探索步人了新的阶段。为了Ｘｆ希格斯玻色子的性质进行更深入的研究以及探索超出标准模型的新物理，ＬＨＣ将进行升级，最高瞬时亮度将提升为现在的２．５倍［３］。ＣＭＳ（ｃｏｍｐａｒｃｔｍｕｏｎｓｏｌｅｎｏｉｄ）实验也需要对探测器进行升级以适应高亮度环境下的运行取数［４］。北京大学髙能组承担了ＣＭＳ缪子探测系统升级中部分气体－电子倍增器（ＧＥＭ）的升级任务，进行ＣＭＳ－ＧＥＭ探测器前端电子学板（ＧＥＢ）的研发、批量生产和测试。本文为ＧＥＢ的测试专门开发了一套基于ＦＰＧＡ与片上系统的测试工具。１ＣＭＳ－ＧＥＭ探测器电子学板ＣＭＳ探测器将探测质子－质子对撞产生的收稿日期＝２０２２－０６－１３基金项目：国家自然科学基金（１２０６１１４１００１）资助。作者简介：梁子寒（１９９５—），男，山东邹平人，在读硕士研究生，攻读方向为高能物理实验研究。缪子及其他各种粒子，其结构如图１所示。ＬＨＣ升级后，端盖内圈区域的探测器事例数比其他区域髙得多，带电粒子的飞行方向受磁场偏转小。因...
