电气传动2023年第53卷第3期ELECTRICDRIVE2023Vol.53No.3摘要：针对高压（HV）玻璃绝缘子均匀与非均匀污染检测难度大、风险评估不准确等问题，提出了一种基于新型泄漏电流指标Rhi的高压玻璃绝缘子风险评估方法。该新型泄漏电流指标Rhi由泄漏电流的第3次、第5次和第7次谐波推导出来，并根据测量到的临界电压梯度（Ec），采用两串33kV的帽针式玻璃绝缘子，在不同的上下表面比（J）和润湿率下对受污染绝缘子进行临界电压应力试验，以评估其风险水平。此外，还分析了等效盐沉积密度（ESDD）与不可溶沉积密度（NSDD）之比对绝缘子闪络发生的影响。最后，通过实验验证了该新型指标能更准确地预测绝缘子的危险程度和闪络发生的概率。关键词：污染绝缘子；风险评估；泄漏电流谐波；快速傅里叶变换；玻璃绝缘子中图分类号：TM28文献标识码：ADOI：10.19457/j.1001-2095.dqcd23503ARiskAssessmentMethodforGlassInsulatorswithaNewLeakageCurrentIndexWANGJie1，JINWeigang2（1.CollegeofElectricPowerEngineering，ShanghaiUniversityofElectricPower，Shanghai200090，China；2.CentralChinaBranchofStateGridCorporationofChina，Wuhan430077，Hubei，China）Abstract:Inviewofthedifficultyindetectingtheuniformandnon-uniformcontaminationofhighvoltage（HV）glassinsulatorsandtheinaccuracyofriskassessment，ariskassessmentmethodforHVglassinsulatorsbasedonanewleakagecurrentindicatorRhiwasproposed.ThenewleakagecurrentindexRhiwasderivedbytheleakagecurrentofthe3rd，5thand7thharmonics，accordingtothemeasuredcriticalvoltagegradient（Ec），usingtwobunchof33kVcapglasspintypeinsulator，thecriticalvoltagestresstestofpollutedinsulatorindifferenttopandbottomsurfaceratio（J）andwettingratewascarriedouttoevaluatedthelevelofrisk.Inaddition，theinfluenceoftheratiooftheequivalentsolubledepositdensity（ESDD）tothatofnonsolubledepositedentisty（NSDD）oninsulatorflashoverwasalsoanalyzed.Finally，theexperimentalresultsshowthatthenewindexcanpredicttheriskdegreeofinsulatorandtheprobabilityofflashovermoreaccurately.Keywords:pollutedinsulators；riskassessment；leakagecurrentharmonics；fastFouriertransform；glassinsulator基金项目：国家自然基金（51777082）作者简介：王节（1996—），男，硕士研...
