Specificationforradiodisturbanceandimmunitymeasuringapparatusandmethods–Part1-2:Radiodisturbanceandimmunitymeasuringapparatus–CouplingdevicesforconducteddisturbancemeasurementsSpécificationsdesméthodesetdesappareilsdemesuredesperturbationsradioélectriquesetdel'immunitéauxperturbationsradioélectriques–Partie1-2:Appareilsdemesuredesperturbationsradioélectriquesetdel'immunitéauxperturbationsradioélectriques–DispositifsdecouplagepourlamesuredesperturbationsconduitesCISPR16-1-2Edition2.02014-03INTERNATIONALSTANDARDNORMEINTERNATIONALECISPR16-1-2:2014-03(EN-FR)®INTERNATIONALSPECIALCOMMITTEEONRADIOINTERFERENCECOMITÉINTERNATIONALSPÉCIALDESPERTURBATIONSRADIOÉLECTRIQUESBASICEMCPUBLICATIONPUBLICATIONFONDAMENTALEENCEMcolourinsideCopyrightedmateriallicensedtoBRDemobyThomsonReuters(Scientific),Inc.,subscriptions.techstreet.com,downloadedonNov-27-2014byJamesMadison.Nofurtherreproductionordistributionispermitted.UncontrolledwhenprinteTHISPUBLICATIONISCOPYRIGHTPROTECTEDCopyright©2014IEC,Geneva,SwitzerlandAllrightsreserved.Unlessotherwisespecified,nopartofthispublicationmaybereproducedorutilizedinanyformorbyanymeans,electronicormechanical,includingphotocopyingandmicrofilm,withoutpermissioninwritingfromeitherIECorIEC'smemberNationalCommitteeinthecountryoftherequester.IfyouhaveanyquestionsaboutIECcopyrightorhaveanenquiryaboutobtainingadditionalrightstothispublication,pleasecontacttheaddressbeloworyourlocalIECmemberNationalCommitteeforfurtherinformation.Droitsdereproductionréservés.Saufindicationcontraire,aucunepartiedecettepublicationnepeutêtrereproduiteniutiliséesousquelqueformequecesoitetparaucunprocédé,électroniqueoumécanique,ycomprislaphotocopieetlesmicrofilms,sansl'accordécritdel'IECouduComiténationaldel'IECdupaysdudemandeur.Sivousavezdesquestionssurlecopyrightdel'IECousivousdésirezobtenirdesdroitssupplémentairessurcettepublication,utilisezlescoordonnéesci-aprèsoucontactezleComiténationaldel'IECdevotrepaysderésidence.IECCentralOfficeTel.:+4122919...
