CEI60749-4(Premièreédition–2002)DISPOSITIFSÀSEMICONDUCTEURS–MÉTHODESD'ESSAISMÉCANIQUESETCLIMATIQUES–Partie4:Essaicontinufortementaccélérédecontraintedechaleurhumide(HAST)IEC60749-4(Firstedition–2002)SEMICONDUCTORDEVICES–MECHANICALANDCLIMATICTESTMETHODS–Part4:Dampheat,steadystate,highlyacceleratedstresstest(HAST)CORRIGENDUM1Page2Aulieude:Lecomitéadécidéquelecontenudecettepublicationneserapasmodifiéavant2012.lire:Lecomitéadécidéquelecontenudecettepublicationneserapasmodifiéavant2007.Page3Insteadof:Thecommitteehasdecidedthatthecontentsofthispublicationwillremainunchangeduntil2012.read:Thecommitteehasdecidedthatthecontentsofthispublicationwillremainunchangeduntil2007.Août2003August2003
