FPGA内部资源测试探讨贺云，肖梦燕，唐锐（工业和信息化部电子第五研究所，广东广州511370）摘要：FPGA功能的稳定与可靠对于其应用至关重要。根据FPGA内部结构特点将其分为可配置逻辑模块、输入输出单元、内部互连线路、块RAM、DSP和时钟管理单元，以及其他特殊的功能模块，阐述了主要的FP-GA测试方法并进行简要的比较。通过分析FPGA的典型故障，比如固定型故障、短路故障、开路故障、暂态故障和延迟故障等，归纳了各个模块对应的测试方法，以期能够帮助简化FPGA测试工作，提高FPGA测试效率。关键词：可编程逻辑阵列；内部结构；故障类型；测试方法中图分类号：TP302.2文献标志码：A文章编号：1672-5468（2022）01-0036-06doi:10.3969/j.issn.1672-5468.2022.01.008DiscussiononInternalResourceTestingofFPGAHEYun，XIAOMengyan，TANGRui（CEPREI，Guangzhou511370，China）Abstract：ThestabilityandreliabilityofFPGAfunctionsarecriticaltoitsapplication.AccordingtotheinternalstructureofFPGA，itisdividedintoconfigurablelogicmodule，inputandoutputunit，internalinterconnectioncircuit，blockRAM，DSP，clockmanagementunitandotherspecialfunctionmodules，andthemainFPGAtestingmethodsareexplainedandcomparedbriefly.ThroughtheanalysisoftypicalFPGAfaults，suchasfixedfaults，short-circuitfauts，open-circuitfaults，transientfaultsanddelayedfaults，thetestmethodscorrespondingtoeachmodulearesummarizedsoastohelpsimplifyFPGAtestworkandimproveFPGAtest.Keywords：fieldprogrammablegatearray；internalarchitecture；faulttype；testmethod收稿日期：2021-07-27修回日期：2021-08-03作者简介：贺云（1991—），男，云南昭通人，工业和信息化部电子第五研究所电子元器件应用验证中心助理工程师，硕士，主要从事元器件检测与可靠性评价相关工作。通信作者：唐锐（1979—），男，四川射洪人，工业和信息化部电子第五研究所元器件检测中心高级工程师，从事IC与器件类检测与可靠性评价工作。电子产品可靠性与环境试验ELECTRONICPRODUCTRELIABILITYANDENVIRONMENTALTESTING计量与测试技术2022年2月第40卷第1期Vol．40No．1Feb.，20220引言由于现场可编程门阵列（FPGA）器件具有体积小、能耗低、高性能、高可靠性和可重复编程等优点，所以其在电子通信、人工智能和军工等领域得以广泛地应用。从最初的万门级到目前的千万门...
