收稿日期:２０２０Ｇ１２Ｇ３０修回日期:２０２２Ｇ０３Ｇ１０录用日期:２０２２Ｇ０４Ｇ２５基金项目:国家自然科学基金(５１９７５３５６)资助项目作者简介:钟智伟(１９９８Ｇ),硕士生,从事电力电子可靠性研究．通信作者:黄亦翔,副研究员;EＧmail:huang．yixiang＠sjtu．edu．cn．文章编号:１００６Ｇ２４６７(２０２３)０８Ｇ１００５Ｇ１１DOI:１０．１６１８３/j．cnki．jsjtu．２０２１．５３８基于概率稀疏自注意力的IGBT模块剩余寿命跨工况预测钟智伟,王誉翔,黄亦翔,肖登宇,夏鹏程,刘成良(上海交通大学机械与动力工程学院,上海２００２４０)摘要:为提高绝缘栅双极型晶体管(IGBT)模块跨工况剩余寿命的预测精度以提升其可靠性,针对不同工况下IGBT模块的瞬态热阻特征提出一种基于概率稀疏自注意力机制和迁移学习的剩余使用寿命预测方法．搭建了IGBT模块加速老化试验台,在不同温度区间进行IGBT模块功率循环实验,采集不同工况下该模块全生命周期状态数据,计算获得IGBT模块衰退过程中的瞬态热阻变化数据,提取并筛选能准确反映IGBT模块老化状态的瞬态热阻特征,并使用所提方法开展跨工况剩余使用寿命预测．实验结果表明,提出的IGBT模块剩余寿命的跨工况预测方法精度明显优于其他对比方法,特别是IGBT模块早期衰退过程中的剩余寿命预测精度得到了显著提升．关键词:绝缘栅双极型晶体管模块;瞬态热阻;剩余寿命预测;概率稀疏自注意力;迁移学习中图分类号:TP１８３;TN３２２８文献标志码:ARemainingUsefulLifePredictionofIGBTModulesAcrossWorkingConditionsBasedonProbSparseSelfＧAttentionZHONGZhiwei,WANGYuxiang,HUANGYixiangXIAODengyu,XIAPengcheng,LIUChengliang(SchoolofMechanicalEngineering,ShanghaiJiaoTongUniversity,Shanghai２００２４０,China)Abstract:Inordertoimprovetheaccuracyofremainingusefullife(RUL)predictionofinsulatedgatebipolartransistor(IGBT)modulesacrossworkingconditionstoenhancetheirreliability,anRULpredictionmethodbasedontheProbSparseselfＧattentionmechanismandtransferlearningwasproposedbasedonthetransientthermalresistancefeaturesofIGBTmodulesunderdifferentworkingconditions．AnacceleratedagingtestbenchoftheIGBTmodulewasdesignedangbuilttoperformpowercyclingexperimentsindifferenttemperatureranges,andstatedataoffulllifeＧtimeunderdifferentworkingconditionswerecollected．Tr...
