IEC62586-2:2013/COR1:2014–1–IEC2014INTERNATIONALELECTROTECHNICALCOMMISSIONCOMMISSIONÉLECTROTECHNIQUEINTERNATIONALE____________IEC62586-2Edition1.02013-12POWERQUALITYMEASUREMENTINPOWERSUPPLYSYSTEMS–Part2:FunctionaltestsanduncertaintyrequirementsIEC62586-2Édition1.02013-12MESUREDELAQUALITEDEL'ALIMENTATIONDANSLESRESEAUXD'ALIMENTATION–Partie2:Essaisfonctionnelsetexigencesd'incertitudeCORRIGENDUM1Table3–TestingpointsforeachmeasuredparameterReplace,intherow"Dips/Interruptions"andcolumn"TestingpointP1",forclassesAandS,"Thresholddip-"by"Thresholddip+".Replace,intherow"Dips/Interruptions"andcolumn"TestingpointP2",forclassAandclassS,"Thresholddip+"by"Thresholddip-".6.4.1GeneralIntheexistingtable,intherow"A4.1.4"andcolumn"TestingpointsaccordingtoTable3",replace"P2forDips/Int."by"P3forDips/Int."6.6.1MeasurementmethodInthetable,intherow"A6.1.6"andcolumn"Targetofthetest",replacetheexistingtextby:"Checkthataproperlydesignedanti-aliasingfilterisusedonthedevice,providing(incombinationwithoversampling)anattenuationexceeding50dBforanyfrequencyproducinganaliasbeloworuptothe50thharmonic."7.12.3InfluenceoftemperatureInthetable,inalltherowsofthecolumnTableau3–Pointsd'essaispourchaqueparamètremesuréRemplacer,danslaligne"Creux,interruptions"etlacolonne"Pointd'essaiP1",pourlaclasseAetclasseS,"Creux-seuil"par"Creux+seuil".Remplacer,danslaligne"Creux,interruptions"etlacolonne"Pointd'essaiP2",pourlaclasseAetclasseS,"Creux+seuil"par"Creux-seuil".6.4.1GénéralitésDansletableauexistant,danslaligne"A4.1.4"etlacolonne"Pointsd'essaiselonleTableau3",remplacer"P2pourlesCreux/Int."par"P3pourlesCreux/Int."6.6.1MéthodedemesureDansletableau,danslaligne"A6.1.6"etlacolonne"Cibledel'essai",remplacerletexteexistantpar:"Vérifiezqu'unfiltreanti-repliementcorrectementconçuestutilisésurl'appareil,enfournissant(encombinaisonavecsuréchantillonnage)uneatténuationdépassant50dBdetouteslesfréquencesproduisantunaliasau-dessousoujusqu'àla50èmeharmonique."7.12.3InfluencedelatempératureDansletabl...
