Specificationforradiodisturbanceandimmunitymeasuringapparatusandmethods–Part2-3:Methodsofmeasurementofdisturbancesandimmunity–RadiateddisturbancemeasurementsSpécificationsdesméthodesetdesappareilsdemesuredesperturbationsradioélectriquesetdel’immunitéauxperturbationsradioélectriques–Partie2-3:Méthodesdemesuredesperturbationsetdel'immunité–MesuresdesperturbationsrayonnéesCISPR16-2-3Edition3.22014-03CONSOLIDATEDVERSIONVERSIONCONSOLIDÉECISPR16-2-3:2010-04+AMD1:2010-06+AMD2:2014-03CSV(en-fr)®INTERNATIONALSPECIALCOMMITTEEONRADIOINTERFERENCECOMITÉINTERNATIONALSPÉCIALDESPERTURBATIONSRADIOÉLECTRIQUESBASICEMCPUBLICATIONPUBLICATIONFONDAMENTALEENCEMcolourinsideCopyrightedmateriallicensedtoBRDemobyThomsonReuters(Scientific),Inc.,subscriptions.techstreet.com,downloadedonNov-27-2014byJamesMadison.Nofurtherreproductionordistributionispermitted.UncontrolledwhenprinteTHISPUBLICATIONISCOPYRIGHTPROTECTEDCopyright©2014IEC,Geneva,SwitzerlandAllrightsreserved.Unlessotherwisespecified,nopartofthispublicationmaybereproducedorutilizedinanyformorbyanymeans,electronicormechanical,includingphotocopyingandmicrofilm,withoutpermissioninwritingfromeitherIECorIEC'smemberNationalCommitteeinthecountryoftherequester.IfyouhaveanyquestionsaboutIECcopyrightorhaveanenquiryaboutobtainingadditionalrightstothispublication,pleasecontacttheaddressbeloworyourlocalIECmemberNationalCommitteeforfurtherinformation.Droitsdereproductionréservés.Saufindicationcontraire,aucunepartiedecettepublicationnepeutêtrereproduiteniutiliséesousquelqueformequecesoitetparaucunprocédé,électroniqueoumécanique,ycomprislaphotocopieetlesmicrofilms,sansl'accordécritdel'IECouduComiténationaldel'IECdupaysdudemandeur.Sivousavezdesquestionssurlecopyrightdel'IECousivousdésirezobtenirdesdroitssupplémentairessurcettepublication,utilisezlescoordonnéesci-aprèsoucontactezleComiténationaldel'IECdevotrepaysderésidence.IECCentralOfficeTel.:+412291902113,ruedeVarembéFax:+41229190300CH-1211Geneva20info@iec.chSwitze...
