NORMEINTERNATIONALECEIIECINTERNATIONALSTANDARD60749-14PremièreéditionFirstedition2003-08Dispositifsàsemiconducteurs–Méthodesd'essaismécaniquesetclimatiques–Partie14:Robustessedessorties(intégritédesconnexions)Semiconductordevices–Mechanicalandclimatictestmethods–Part14:Robustnessofterminations(leadintegrity)NuméroderéférenceReferencenumberCEI/IEC60749-14:2003LICENSEDTOMECONLimited.-RANCHI/BANGALOREFORINTERNALUSEATTHISLOCATIONONLY,SUPPLIEDBYBOOKSUPPLYBUREAU.NumérotationdespublicationsDepuisle1erjanvier1997,lespublicationsdelaCEIsontnumérotéesàpartirde60000.Ainsi,laCEI34-1devientlaCEI60034-1.EditionsconsolidéesLesversionsconsolidéesdecertainespublicationsdelaCEIincorporantlesamendementssontdisponibles.Parexemple,lesnumérosd’édition1.0,1.1et1.2indiquentrespectivementlapublicationdebase,lapublicationdebaseincorporantl’amendement1,etlapublicationdebaseincorporantlesamendements1et2.InformationssupplémentairessurlespublicationsdelaCEILecontenutechniquedespublicationsdelaCEIestconstammentrevuparlaCEIafinqu'ilreflètel'étatactueldelatechnique.Desrenseignementsrelatifsàcettepublication,ycomprissavalidité,sontdispo-niblesdansleCataloguedespublicationsdelaCEI(voirci-dessous)enplusdesnouvelleséditions,amendementsetcorrigenda.Desinformationssurlessujetsàl’étudeetl’avancementdestravauxentreprisparlecomitéd’étudesquiaélaborécettepublication,ainsiquelalistedespublicationsparues,sontégalementdisponiblesparl’intermédiairede:•SitewebdelaCEI(www.iec.ch)•CataloguedespublicationsdelaCEILecatalogueenlignesurlesitewebdelaCEI(www.iec.ch/searchpub)vouspermetdefairedesrecherchesenutilisantdenombreuxcritères,comprenantdesrecherchestextuelles,parcomitéd’étudesoudatedepublication.Desinformationsenlignesontégalementdisponiblessurlesnouvellespublications,lespublicationsremplacéesouretirées,ainsiquesurlescorrigenda.•IECJustPublishedCerésumédesdernièrespublicationsparues(www.iec.ch/online_news/justpub)estaussidispo-nibleparcourrierélectronique...
