IEC61000-4-25Edition1.22019-12CONSOLIDATEDVERSIONVERSIONCONSOLIDÉEElectromagneticcompatibility(EMC)–Part4-25:Testingandmeasurementtechniques–HEMPimmunitytestmethodsforequipmentandsystemsCompatibilitéélectromagnétique(CEM)–Partie4-25:Techniquesd’essaietdemesure–Méthodesd’essaid’immunitéàl’IEMN-HAdesappareilsetdessystèmesIEC61000-4-25:2001-11+AMD1:2012-03+AMD2:2019-12CSV(en-fr)®colourinsideTHISPUBLICATIONISCOPYRIGHTPROTECTEDCopyright©2019IEC,Geneva,SwitzerlandAllrightsreserved.Unlessotherwisespecified,nopartofthispublicationmaybereproducedorutilizedinanyformorbyanymeans,electronicormechanical,includingphotocopyingandmicrofilm,withoutpermissioninwritingfromeitherIECorIEC'smemberNationalCommitteeinthecountryoftherequester.IfyouhaveanyquestionsaboutIECcopyrightorhaveanenquiryaboutobtainingadditionalrightstothispublication,pleasecontacttheaddressbeloworyourlocalIECmemberNationalCommitteeforfurtherinformation.Droitsdereproductionréservés.Saufindicationcontraire,aucunepartiedecettepublicationnepeutêtrereproduiteniutiliséesousquelqueformequecesoitetparaucunprocédé,électroniqueoumécanique,ycomprislaphotocopieetlesmicrofilms,sansl'accordécritdel'IECouduComiténationaldel'IECdupaysdudemandeur.Sivousavezdesquestionssurlecopyrightdel'IECousivousdésirezobtenirdesdroitssupplémentairessurcettepublication,utilisezlescoordonnéesci-aprèsoucontactezleComiténationaldel'IECdevotrepaysderésidence.IECCentralOfficeTel.:+412291902113,ruedeVarembéinfo@iec.chCH-1211Geneva20www.iec.chSwitzerlandAbouttheIECTheInternationalElectrotechnicalCommission(IEC)istheleadingglobalorganizationthatpreparesandpublishesInternationalStandardsforallelectrical,electronicandrelatedtechnologies.AboutIECpublicationsThetechnicalcontentofIECpublicationsiskeptunderconstantreviewbytheIEC.Pleasemakesurethatyouhavethelatestedition,acorrigendumoranamendmentmighthavebeenpublished.IECpublicationssearch-webstore.iec.ch/advsearchformTheadvancedsearchenablestofindIECpublicationsbyavarietyofc...
